儀德科學專業(yè)代理日本理學ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀，波長色散型光譜儀可解決多種不同類型樣品金屬元素分析，有效快速幫助各類行加工、生產(chǎn)。本文章分享ZSX PrimusIV波長色散X射線光譜儀這款設(shè)備的特點。

硬件安全、軟件安心、維護方便
萬一的失誤導致儀器損壞令人十分痛心。高性能的精密分析儀器ZSX PrimusIV設(shè)計為即便粉末樣品發(fā)生粉末飛散也不會損壞儀器的上照射方式。在軟件上也設(shè)計為防止操作失誤的用戶分級管理方式。

即便粉末樣品松散下落也不會污染光學系統(tǒng)-上照射方式
因為采用上照射方式粉末壓片樣品的粉末飛散、下落也不會貴給光學系統(tǒng)造成影響。也不需要粘貼樣品保護薄膜。

新技術(shù)的采用和精細的設(shè)計-奠定
ZSX PrimusIV的各組件都使用著先端的要素技術(shù)，加之微細處因此，無論是對要求高精細的研究，還是對大量測量的日常質(zhì)量。

液體樣品分析用真空封擋系統(tǒng)
在樣品室和分析室之間以隔壁封擋方式自動置換氦氣，大幅度縮短了由真空向氦氣光路的置換時間。

液體樣品盒自動識別機構(gòu)
分析液體樣品時，樣品室需要置換成He氣氛圍。通過液體樣品盒自動識別機構(gòu)可以避免液體樣品盒在真空狀態(tài)下進入樣品室，從而放心地測量液體樣品。

樣品盒位置一目了然
樣品臺正面和右側(cè)面均為透明窗，所以坐在計算機前操作儀器的同時可以一-目了然地確認分析樣品的位置。

不需要PR氣體的S-PCLE
可以選配測量輕元素的氣體封閉型正比計數(shù)器(S-PCLE)。方便在難以購置PR氣體的地方使用。注:使用F-PC檢測器時，必須使用檢測器用氣體(PR氣體)。

*的光學系統(tǒng)-減少樣品表面不平整的影響
被測量樣品表面凹凸不平的話，分析面與X光管的距離便有差異，這樣的距離差異會帶來強度變化。理學儀器的光學系統(tǒng)可以減少由于距離不同引起的X光強的變化。
玻璃熔片時由于坩堝之間底部形狀的差異造成的影響、粉末壓片時樣品表面凹凸的影響等都可通過此光學系統(tǒng)予以校準,得到更加準確的分析。

高靈敏度彎晶
可配置PET彎晶和Ge彎晶。高靈敏度Ge彎晶與平晶相比，對P、S的靈敏度提高了30%;高靈敏度PRT彎晶與平晶相比，Al、Si的靈敏度提高了30%。也可以使用在SQX程序中，提高無標樣定量分析的靈敏度。

一次X射線濾光片
設(shè)置在X射線光管和樣品之間，用于減輕X射線光管發(fā)出的連續(xù)X射線或特征X射線對分析譜線的妨礙。

散射線SQX
使用散射線強度來推定樣品中非測量成分的超輕元素(C、H、O、N)的影響,對污泥、水垢等含有非測量成分的樣品,不做非測量成分設(shè)定便可進行更加準確的近似定量分析。